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太赫兹片上天线测试解决方案
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太赫兹片上天线测试解决方案
本方案面向太赫兹频段片上天线、集成天线、封装天线（AiP）及芯片级射频前端测试需求，提供高精度在片馈电、辐射特性测试及有源性能验证能力。系统集成矢量网络分析仪、频谱分析仪、太赫兹扩频模块、高精度探针台、多轴转台/六轴机械臂及专用测控软件，可实现从端口射频参数、空间辐射特性到有源天线空口性能的综合测试，适用于太赫兹通信、雷达芯片、相控阵前端、封装天线及高频集成电路的研发验证与性能评估。
系统支持GSG探针、同轴和波导等多种馈电形式，可根据被测芯片、封装结构和测试频段灵活配置测试链路。通过片上探针馈电与空间扫描机构协同工作，系统可完成片上天线S参数、驻波比、阻抗匹配、方向图、增益、极化特性、辐射效率及多通道相控阵天线辐射性能测试。同时，系统可兼容频谱分析仪及频谱扩频模块，用于有源天线、发射芯片和通信/雷达前端的频谱特性、空间辐射分布及空口性能测试。详细信息请联系我们。
